USB數據線高級測試儀YC-659M使用說明書
首次支持USB數據通信測試、C-C2.0數據線
史上強大、準確的蘋果數據線測試儀,業界權威,雙面測試,單頭測試,0-3A電流實測,D+D-漏電阻檢測,靜態電流、限流、短路電流、短路保護、過壓保護,支持C48、E75、C68A、C52、C89、C91、C94、蘋果安卓3合1線、蘋果安卓1拖3線、 C-C2.0線、帶HUB數據線。
【符號說明】
1、A = USB-A, C = Type-C, L = Lightning,M = Micro
2、A-L:USB-A公轉Lightning數據線。
3、A-C:USB-A公轉Type-C數據線。
4、A-M:USB-A公轉Micro數據線。
5、C-C:Type-C轉Type-C數據線。
【YC-659M與YG-629M的區別】
YC-659M是YG-629M的升級版,在YG-629M的基礎上做了以下几項重要改進:
- 採用全新的CPU重新設計大部分軟硬件。
- 支持USB數據通信測試,支持高速、全速USB,支持帶HUB數據線。NEW
- 支持連接真機測試。NEW
3、支持C-C 2.0帶E-Marker的數據線。NEW
4、Type-C口支持PD協議輸出。NEW
5、測試性能、測試精度都得到提高。
【簡介】
手機已成為最為流行的電子產品,各種外圍產品也幸運而生,本公司立志為廣大外設廠家服務,適時推出相應的檢測設備,為您提高生產效率,為您的品質保駕護航。本產品為一款多功能的數據線測試儀器,適用於研發和批量生產環節。
【功能特點】
- 採用32位高速處理器設計,運行速度達到200多MHz。
- 支持USB數據通信測試,支持高速、全速USB,支持HUB,用於測數據線的兼容性。NEW
- 支持iPhoneX、iPhone8、iPhone7、iPhone6、iPhone5、iPad4、iPad mini、iPod nano6數據線、充電線、單頭測試。
- 支持iOS6-iOS14操作系統,支持MFI認証原裝數據線和山寨高仿數據線、C10B、E75、C48,C68A、C68E、C52、C89、C91、C94快充線、蘋果安卓1拖3線等。
- Lightning雙面測試,插一次即可全部測完,提高效率。
- 支持單獨的A-M、A-C線,支持華為雙電阻。
- 支持帶HUB的數據線,帶HUB的1拖3數據線。NEW
- 支持OPPO數據線(A-M,A-C),全兼容線,支持原裝、高仿方案識別。
- 支持C-C 2.0帶E-Marker的數據線,支持部分E-Marker芯片型號識別(VL150、VL151、VL152、VL152C、RT1710、FL7001、FL7031、HUSB330/331/332、CHC5388、CYPD2103、CYPD2704)。NEW
- 支持E-Marker芯片讀碼。
- 支持真機測試,類似電腦作為主機連接手機測試充電和數據通信是否正常。 支持PD輸出5V或9V用於測試C94連接手機是否觸發9V充電。NEW
- 支持移動電源測試,Lightning、Micro、Type-C輸出(不支持PD協議)。
- 支持搖擺測試。
- 負載電流可以設定0-3A,可以設為2.4A實測iPad數據線,充分保証線材指標。
- 準確測出D+、D-電阻,可以檢測出D+、D-內置的匹配電阻大小並作出判斷。
- 可測出D+、D-漏電阻,並根據設定範圍判定結果,漏電阻過小會影響數據通信和充電速度。
- 可以測出MOS管是否正常開通關閉,有無輸出短保護功能。
- 由於iOS9和iOS10認証流程有區別,本儀器可以設定iOS9或iOS10后流程進行測試。
- 由於USB座使用率很高,容易損坏,所以USB座採用分體設計,方便更換。
- 支持C68A、C78、C79的測試(用戶需要自己改裝測試板),C68A用於蘋果外設如鍵盤、U盤等。
- 可測試出具體故障點,以便技術人員對線進行檢修。
- 各種保護措施避免儀器使用過程中受到損坏,防靜電保護,防短路保護,直接短路USB電源也不會損坏。
- 插入被測產品自動開始測試。
- 測試速度快,效率高。
- 良品、不良品計數。
- 內置雙TF卡(2 X 4GB以上),用於保存數據和測試用。
※ 5寸IPS高清觸模電容屏。
※ 同時有聲音測試結果。
※ 設置的測試文件可掉電保存。
※ 可以連接電腦,有PC軟件,實現更多功能,也可單獨使用。
※ 通過PC軟件對蘋果協議數據抓取。
※ 支持中文、繁體、英文。
※ 可以在線升級,使儀器隨時擁 的功能,如果儀器有問題,可使用在線升級經松解決,不必返廠。
【YC-659M支持產品列表】
數據線類:
- 原裝、山寨E75、C48、C89、C91、C94等數據線。
- 支持蘋果、安卓1拖3數據線,直連或帶HUB都可以。
- 單獨的安卓A-Micro數據線,單獨的安卓A-C 2.0數據線。
- C-C 2.0帶E-Marker數據線。
- C68A 、C68E 、C78、C79,4線、5線裸線(需要購買相應測試板或自行改裝)。
- C68A 、C68E雙頭線(需要購買相應測試板或自行改裝)。
- 山寨雙頭數據線(需要購買相應測試板或自行改裝)。
- 華為A-C雙電阻5A線。
- OPPO數據線(A-M,A-C),原裝或高仿方案。
- OPPO華為全兼容線。
- 8848數據線(線上VBUS有開關)。
充電線類:
- 原裝、山寨E75、C48、C52、C91等充電線。
- 蘋果安卓2合1充電線。
- 蘋果安卓1拖2充電線。
- 安卓充電線。
- 支持特殊的移動電源用充電線的測試。
單頭類:
- 蘋果、山寨單頭E75、C48、C68、C52、C89、C91、C94,(檢測部分項目)。
- 蘋果、山寨單頭E75、C48、C68、C52、C89、C91、C94,點測法(更多功能)。
- 蘋果、山寨單頭E75、C48、C68、C52、C89、C91、C94,測試架法(全功能測試,需要定做測試架)。
- C100、C101(僅支持讀碼激光打印、打條碼)
【檢測項目】
檢測項目
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檢測內容
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蘋果數據線C48、E75、C89
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蘋果快充數據線C94
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A-M數據線含OPPO
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A-C數據線含OPPO
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C-C 2.0帶E-Marker
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不良原因
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空載電壓
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輸出電壓是否達標
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√
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√
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√
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√
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電源線開路或Lightning頭損坏
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靜態電流
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蘋果頭、數據線本身耗電
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√
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√
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√
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√
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√
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電源線短路、漏電或MOS管坏
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輕負載電壓
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輸出電壓是否合格
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√
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√
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√
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√
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√
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電源線開路或Lightning頭損坏
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重負載電壓
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輸出電壓是否合格,以檢測出數據線內阻、壓降是否達標
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√
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√
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√
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√
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√
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電源線開路或Lightning頭損坏,線材或插頭內阻過大
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過壓保護
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當線上電壓過高時,蘋果頭是否會關閉輸出,原裝線過壓保護一般是6.35V左右
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√
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√
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MOS管損坏、漏電,非原裝MOS管
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電流
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指定壓降條件下線材能過的 電流
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√
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√
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√
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√
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√
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線材或插頭內阻過大
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C68-AP線
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C68、C78的3.3V輸出線是否正常
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√
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AP線開路、或和其它線短路
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Gnd線
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單獨檢測地線連接是否正常
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√
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√
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√
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√
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√
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地線開路
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D+
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連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻
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√
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√
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√
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√
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√
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D+線開路、短路、漏電,虛焊內阻過大
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D-
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連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻
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√
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√
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√
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√
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√
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D-線開路、短路、漏電,虛焊內阻過大
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USB數據通信
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全速、高速USB2.0傳輸
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√
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√
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√
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√
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√
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D+D-問題,HUB芯片不良,兼容性問題
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主端D+D-電壓
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一些特殊數據線需要單獨檢測主端D+D-
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√
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√
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√
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相關線開路短路、電阻不良
|
主端鐵殼
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懸空、接VCC、接GND、直通
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√
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√
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√
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√
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√
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連接不正確
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從端鐵殼
|
懸空、接VCC、接GND、直通
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√
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√
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√
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√
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√
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連接不正確
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芯片協議DQ
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通信、普通認証、動態認証、版本、序列號
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√
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√
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主控芯片、動態芯片損坏、虛焊、未寫碼
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VOOC協議
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檢測VOOC認証
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√
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√
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認証芯片損坏、虛焊
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DQ腳電平
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IC協議通信腳的高低電平是否符合要求
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√
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√
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|
主控芯片不良,部分損坏
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Hi5cc
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檢測Hi5cc電流是否正常
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√
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√
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主控芯片不良,部分損坏
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MSN/ASN
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已寫/未寫
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√
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√
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未寫碼
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MOS管
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是否可正常控制、開路、短路,是否有輸出短路保護功能
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√
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√
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|
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|
MOS管開路、短路、非原裝MOS管,金手指開路
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待機空載電壓
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待機電壓是否正常
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√
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√
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|
MOS管損坏,山寨頭100歐電阻虛焊
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待機帶載電壓
|
待機帶載電壓是否正常
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√
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√
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|
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MOS管損坏,關不死
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待機限流
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待機時給3.5V電池充電電流
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√
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√
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MOS管損坏,關不死
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短路電流
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待機時輸出端短路電流
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√
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√
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MOS管損坏
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CC線
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快充線CC線是否連通
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√
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√
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CC線開路,虛焊
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CC電阻
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CC線上的Rd,Rp連接方式、電阻阻值
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√
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√
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插頭不良
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E-Marker
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讀碼
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√
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芯片、CC線、插頭腳開短路
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IC方案
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檢測蘋果頭中所用的芯片方案
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Lightning
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Lightning
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OPPO芯片方案
|
OPPO芯片方案
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芯片方案不對
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搖擺測試
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檢查線材搖擺瞬間有無開短路等
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√
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√
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√
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√
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√
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虛焊
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【檢測項目】
檢測項目
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檢測內容
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蘋果數據線C48、E75、C89
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蘋果快充數據線C94
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A-M數據線含OPPO
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A-C數據線含OPPO
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C-C 2.0帶E-Marker
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不良原因
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空載電壓
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輸出電壓是否達標
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√
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√
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√
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√
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√
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電源線開路或Lightning頭損坏
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靜態電流
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蘋果頭、數據線本身耗電
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√
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√
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√
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√
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√
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電源線短路、漏電或MOS管坏
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輕負載電壓
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輸出電壓是否合格
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√
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√
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√
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√
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√
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電源線開路或Lightning頭損坏
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重負載電壓
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輸出電壓是否合格,以檢測出數據線內阻、壓降是否達標
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√
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√
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√
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√
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√
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電源線開路或Lightning頭損坏,線材或插頭內阻過大
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過壓保護
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當線上電壓過高時,蘋果頭是否會關閉輸出,原裝線過壓保護一般是6.35V左右
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√
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√
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MOS管損坏、漏電,非原裝MOS管
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電流
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指定壓降條件下線材能過的 電流
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√
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√
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√
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√
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√
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線材或插頭內阻過大
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C68-AP線
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C68、C78的3.3V輸出線是否正常
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√
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AP線開路、或和其它線短路
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Gnd線
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單獨檢測地線連接是否正常
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√
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√
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√
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√
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√
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地線開路
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D+
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連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻
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√
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√
|
√
|
√
|
√
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D+線開路、短路、漏電,虛焊內阻過大
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D-
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連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻
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√
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√
|
√
|
√
|
√
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D-線開路、短路、漏電,虛焊內阻過大
|
USB數據通信
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全速、高速USB2.0傳輸
|
√
|
√
|
√
|
√
|
√
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D+D-問題,HUB芯片不良,兼容性問題
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主端D+D-電壓
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一些特殊數據線需要單獨檢測主端D+D-
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√
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√
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√
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相關線開路短路、電阻不良
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主端鐵殼
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懸空、接VCC、接GND、直通
|
√
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√
|
√
|
√
|
√
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連接不正確
|
從端鐵殼
|
懸空、接VCC、接GND、直通
|
√
|
√
|
√
|
√
|
√
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連接不正確
|
芯片協議DQ
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通信、普通認証、動態認証、版本、序列號
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√
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√
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主控芯片、動態芯片損坏、虛焊、未寫碼
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VOOC協議
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檢測VOOC認証
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√
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√
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認証芯片損坏、虛焊
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DQ腳電平
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IC協議通信腳的高低電平是否符合要求
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√
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√
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|
主控芯片不良,部分損坏
|
Hi5cc
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檢測Hi5cc電流是否正常
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√
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√
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主控芯片不良,部分損坏
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MSN/ASN
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已寫/未寫
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√
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√
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|
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未寫碼
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MOS管
|
是否可正常控制、開路、短路,是否有輸出短路保護功能
|
√
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√
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|
|
|
MOS管開路、短路、非原裝MOS管,金手指開路
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待機空載電壓
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待機電壓是否正常
|
√
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√
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MOS管損坏,山寨頭100歐電阻虛焊
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待機帶載電壓
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待機帶載電壓是否正常
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√
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√
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|
MOS管損坏,關不死
|
待機限流
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待機時給3.5V電池充電電流
|
√
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√
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|
|
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MOS管損坏,關不死
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短路電流
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待機時輸出端短路電流
|
√
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√
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MOS管損坏
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CC線
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快充線CC線是否連通
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|
√
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|
√
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CC線開路,虛焊
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CC電阻
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CC線上的Rd,Rp連接方式、電阻阻值
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√
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√
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插頭不良
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E-Marker
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讀碼
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√
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芯片、CC線、插頭腳開短路
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IC方案
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檢測蘋果頭中所用的芯片方案
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Lightning
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Lightning
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OPPO芯片方案
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OPPO芯片方案
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芯片方案不對
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搖擺測試
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檢查線材搖擺瞬間有無開短路等
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虛焊
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