USB数据线高级测试仪YC-659M使用说明书
首次支持USB数据通信测试、C-C2.0数据线
史上强大、准确的苹果数据线测试仪,业界权威,双面测试,单头测试,0-3A电流实测,D+D-漏电阻检测,静态电流、限流、短路电流、短路保护、过压保护,支持C48、E75、C68A、C52、C89、C91、C94、苹果安卓3合1线、苹果安卓1拖3线、 C-C2.0线、带HUB数据线。
【符号说明】
1、A = USB-A, C = Type-C, L = Lightning,M = Micro
2、A-L:USB-A公转Lightning数据线。
3、A-C:USB-A公转Type-C数据线。
4、A-M:USB-A公转Micro数据线。
5、C-C:Type-C转Type-C数据线。
【YC-659M与YG-629M的区别】
YC-659M是YG-629M的升级版,在YG-629M的基础上做了以下几项重要改进:
3、支持C-C 2.0带E-Marker的数据线。NEW
4、Type-C口支持PD协议输出。NEW
5、测试性能、测试精度都得到提高。
【简介】
手机已成为最为流行的电子产品,各种外围产品也幸运而生,本公司立志为广大外设厂家服务,适时推出相应的检测设备,为您提高生产效率,为您的品质保驾护航。本产品为一款多功能的数据线测试仪器,适用于研发和批量生产环节。
【功能特点】
※ 5寸IPS高清触模电容屏。
※ 同时有声音测试结果。
※ 设置的测试文件可掉电保存。
※ 可以连接电脑,有PC软件,实现更多功能,也可单独使用。
※ 通过PC软件对苹果协议数据抓取。
※ 支持中文、繁体、英文。
※ 可以在线升级,使仪器随时拥 的功能,如果仪器有问题,可使用在线升级经松解决,不必返厂。
【YC-659M支持产品列表】
数据线类:
充电线类:
单头类:
【检测项目】
检测项目 |
检测内容 |
苹果数据线C48、E75、C89 |
苹果快充数据线C94 |
A-M数据线含OPPO |
A-C数据线含OPPO |
C-C 2.0带E-Marker |
不良原因 |
空载电压 |
输出电压是否达标 |
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电源线开路或Lightning头损坏 |
静态电流 |
苹果头、数据线本身耗电 |
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电源线短路、漏电或MOS管坏 |
轻负载电压 |
输出电压是否合格 |
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电源线开路或Lightning头损坏 |
重负载电压 |
输出电压是否合格,以检测出数据线内阻、压降是否达标 |
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电源线开路或Lightning头损坏,线材或插头内阻过大 |
过压保护 |
当线上电压过高时,苹果头是否会关闭输出,原装线过压保护一般是6.35V左右 |
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MOS管损坏、漏电,非原装MOS管 |
电流 |
指定压降条件下线材能过的 电流 |
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线材或插头内阻过大 |
C68-AP线 |
C68、C78的3.3V输出线是否正常 |
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AP线开路、或和其它线短路 |
Gnd线 |
单独检测地线连接是否正常 |
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地线开路 |
D+ |
连接方式、分压值、电阻值、漏电阻 |
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D+线开路、短路、漏电,虚焊内阻过大 |
D- |
连接方式、分压值、电阻值、漏电阻 |
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D-线开路、短路、漏电,虚焊内阻过大 |
USB数据通信 |
全速、高速USB2.0传输 |
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D+D-问题,HUB芯片不良,兼容性问题 |
主端D+D-电压 |
一些特殊数据线需要单独检测主端D+D- |
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相关线开路短路、电阻不良 |
主端铁壳 |
悬空、接VCC、接GND、直通 |
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连接不正确 |
从端铁壳 |
悬空、接VCC、接GND、直通 |
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连接不正确 |
芯片协议DQ |
通信、普通认证、动态认证、版本、序列号 |
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主控芯片、动态芯片损坏、虚焊、未写码 |
VOOC协议 |
检测VOOC认证 |
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认证芯片损坏、虚焊 |
DQ脚电平 |
IC协议通信脚的高低电平是否符合要求 |
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主控芯片不良,部分损坏 |
Hi5cc |
检测Hi5cc电流是否正常 |
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主控芯片不良,部分损坏 |
MSN/ASN |
已写/未写 |
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未写码 |
MOS管 |
是否可正常控制、开路、短路,是否有输出短路保护功能 |
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MOS管开路、短路、非原装MOS管,金手指开路 |
待机空载电压 |
待机电压是否正常 |
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MOS管损坏,山寨头100欧电阻虚焊 |
待机带载电压 |
待机带载电压是否正常 |
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MOS管损坏,关不死 |
待机限流 |
待机时给3.5V电池充电电流 |
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MOS管损坏,关不死 |
短路电流 |
待机时输出端短路电流 |
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MOS管损坏 |
CC线 |
快充线CC线是否连通 |
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CC线开路,虚焊 |
CC电阻 |
CC线上的Rd,Rp连接方式、电阻阻值 |
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插头不良 |
E-Marker |
读码 |
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芯片、CC线、插头脚开短路 |
IC方案 |
检测苹果头中所用的芯片方案 |
Lightning |
Lightning |
OPPO芯片方案 |
OPPO芯片方案 |
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芯片方案不对 |
摇摆测试 |
检查线材摇摆瞬间有无开短路等 |
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虚焊 |
【检测项目】
检测项目 |
检测内容 |
苹果数据线C48、E75、C89 |
苹果快充数据线C94 |
A-M数据线含OPPO |
A-C数据线含OPPO |
C-C 2.0带E-Marker |
不良原因 |
空载电压 |
输出电压是否达标 |
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电源线开路或Lightning头损坏 |
静态电流 |
苹果头、数据线本身耗电 |
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电源线短路、漏电或MOS管坏 |
轻负载电压 |
输出电压是否合格 |
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电源线开路或Lightning头损坏 |
重负载电压 |
输出电压是否合格,以检测出数据线内阻、压降是否达标 |
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电源线开路或Lightning头损坏,线材或插头内阻过大 |
过压保护 |
当线上电压过高时,苹果头是否会关闭输出,原装线过压保护一般是6.35V左右 |
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MOS管损坏、漏电,非原装MOS管 |
电流 |
指定压降条件下线材能过的 电流 |
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线材或插头内阻过大 |
C68-AP线 |
C68、C78的3.3V输出线是否正常 |
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AP线开路、或和其它线短路 |
Gnd线 |
单独检测地线连接是否正常 |
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地线开路 |
D+ |
连接方式、分压值、电阻值、漏电阻 |
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D+线开路、短路、漏电,虚焊内阻过大 |
D- |
连接方式、分压值、电阻值、漏电阻 |
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D-线开路、短路、漏电,虚焊内阻过大 |
USB数据通信 |
全速、高速USB2.0传输 |
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D+D-问题,HUB芯片不良,兼容性问题 |
主端D+D-电压 |
一些特殊数据线需要单独检测主端D+D- |
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相关线开路短路、电阻不良 |
主端铁壳 |
悬空、接VCC、接GND、直通 |
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连接不正确 |
从端铁壳 |
悬空、接VCC、接GND、直通 |
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连接不正确 |
芯片协议DQ |
通信、普通认证、动态认证、版本、序列号 |
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主控芯片、动态芯片损坏、虚焊、未写码 |
VOOC协议 |
检测VOOC认证 |
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认证芯片损坏、虚焊 |
DQ脚电平 |
IC协议通信脚的高低电平是否符合要求 |
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主控芯片不良,部分损坏 |
Hi5cc |
检测Hi5cc电流是否正常 |
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主控芯片不良,部分损坏 |
MSN/ASN |
已写/未写 |
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未写码 |
MOS管 |
是否可正常控制、开路、短路,是否有输出短路保护功能 |
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MOS管开路、短路、非原装MOS管,金手指开路 |
待机空载电压 |
待机电压是否正常 |
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MOS管损坏,山寨头100欧电阻虚焊 |
待机带载电压 |
待机带载电压是否正常 |
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MOS管损坏,关不死 |
待机限流 |
待机时给3.5V电池充电电流 |
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√ |
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MOS管损坏,关不死 |
短路电流 |
待机时输出端短路电流 |
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√ |
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MOS管损坏 |
CC线 |
快充线CC线是否连通 |
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CC线开路,虚焊 |
CC电阻 |
CC线上的Rd,Rp连接方式、电阻阻值 |
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插头不良 |
E-Marker |
读码 |
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芯片、CC线、插头脚开短路 |
IC方案 |
检测苹果头中所用的芯片方案 |
Lightning |
Lightning |
OPPO芯片方案 |
OPPO芯片方案 |
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芯片方案不对 |
摇摆测试 |
检查线材摇摆瞬间有无开短路等 |
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虚焊 |